Конференция, организованная нашей медиагруппой «Электроника», прошла в 5 июня Москве.
Как и первая конференция, состоявшаяся год назад, нынешняя вызвала живой интерес.
В прошлом году в программе преобладали доклады, посвященные граничному сканированию, многие доклады касались технологий JTAG.
На этот раз акцент был сделан на входной контроль. Учли мы и специфику отечественного рынка электроники – в программе конференции нашлось место для двух докладов компании ОАО «Российские космические системы», а также докладу об испытании на радиационную стойкость. Однако и о JTAG мы не забыли. Два последних доклада сделали представители этой компании.
Если очень кратко подвести итоги конференции, то, пожалуй, их можно выразить следующим образом: «Контроль, контроль и еще раз контроль на всех стадиях производственного процесса». Не существуют компонентов со 100-% надежностью, следовательно, невозможно изготавливать конечные изделия со 100-% качеством, без брака. Важно уметь вовремя обнаружить брак, чтобы он не распространился дальше по конвейеру.
И методов обнаружения брака в настоящее время немало, начиная с определения ненормируемых производителем параметров, например паразитных входных емкостей или падения напряжения на защитных входных диодах микросхемы, и заканчивая термоциклированием и форсированными испытаниями.
В докладах говорилось и об аппаратных средствах испытаний изделий. В этом отношении к услугам производителей немало интересного – от уже привычных летающих иголок до функциональных тестеров электронных компонентов и от электромеханических реле и моточных компонентов до сложных микросхем (ПЛИС и микроконтроллеров).
И наконец, JTAG. Поскольку технологии граничного сканирования прочно вошли в повседневную жизнь, доклады о новинках этого направления всегда актуальны. На этот раз помимо доклада о возможностях технологии был проведен небольшой мастер-класс по работе в бесплатной программе JTAG Live Buzz.
В этом кратком сообщении о конференции мы умышленно не стали перечислять подробности каждого доклада и представлять докладчиков. Программа конференции приведена ниже. В ней перечислены имена докладчиков и темы докладов. Как обычно, участники конференции получат по почте все презентации, аудиозапись этого мероприятия и фотографии. На этот раз мы постараемся выложить и видеозапись конференции.
ПРОГРАММА КОНФЕРЕНЦИИ
- «Элементы входного контроля при внутрисхемном тестировании». Андрей Насонов, технический директор, ЗАО «Остек-Электро».
- «Практический опыт применения диагностического неразрушающего контроля в испытаниях ЭКБ». Иван Булаев, инженер-исследователь, ОАО «Российскиекосмические системы».
- «Требования к входному контролю ЭКБ и их реализация в соответствии с НТД». Вадим Скрыгин, начальник отдела развития продуктов, ФОРМ.
- «Контроль параметров электронных компонентов путем измерения вольтамперных характеристик ВАХ». Николай Грицев, инженер-конструктор, ОАО МНИПИ.
- «Наборы «сделай сам» для изготовления оснастки для функционального контроля». Игорь Смирнов, специалист, ЗАО «Остек-Электро».
- «Тестирование моточных изделий и электрических машин». Алексей Юдин, ведущий специалист, ЗАО «Остек-Электро».
- «Современные автоматы для внутрисхемного тестирования». Андрей Насонов, технический директор, ЗАО «Остек-Электро».
- «Автоматизация испытаний ЭКБ на надежность в испытательном центре». Андрей Кулибаба, начальник сектора, ОАО «Российские космические системы».
- «Автоматизированные тесты функционально сложных изделий». Иван Леухин, координатор проектов, NationalInstruments.
- «Анализаторы производственных дефектов (MDA) и внутрисхемные тестеры (ICT). Решение «Совтест АТЕ» в области обратного проектирования (Reverse Engineering) на базе тестеров с подвижными пробниками фирмы Seica, Италия». Игорь Рыков, руководитель службы тестового оборудования; Вадим Кусков, начальника отдела внутрисхемного контроля, ООО «Совтест АТЕ».
- «Методы и средства проведения испытаний ЭКБ на радиационную стойкость». Павел Некрасов, руководитель группы, ОАО ЭНПО СПЭЛС.
- · «Интеграция периферийного сканирования с другими методами структурного тестирования». Алексей Иванов, JTAG Technologies.
- · «Мастер-класс по работе в бесплатной программе JTAG Live Buzz. Гиви Чхутиашвили, JTAG Technologies.