Дистанционный мониторинг температуры на основе удаленных диодов, Джон Остин (John Austin), инженер по применению, Microchip Technology
Кроме того, в статье рассматриваются ключевые критерии проектирования (точность измерения температуры, энергопотребление, стоимость и размер системы, сложность разработки) каждого из этих решений. Мы обсудим решение для мониторинга температуры удаленных полупроводниковых диодов, которое позволяет исключить многие ограничения, свойственные традиционным решениям. В статье также обсуждаются вопросы использования интегрированных функций, к которым относятся коррекция погрешности, обусловленной сопротивлением проводов,…
