JTAGприглашает на Электронтехэкспо-2018 и Экспоэлектронику-2018!   Будет представлено и показано в работе рабочее место входного контроля микросхем на базе станции периферийного сканирования. Специалисты компании расскажут, какие проверки можно выполнить, как создаются и запускаются тесты для микросхем. Также будет показана система периферийного сканирования для тестирования плат на базе новейшей версии JTAG ProVision. Кроме стенда, компания приглашает на семинар АО НИИЭТ, где будет сделан доклад о возможностях периферийного сканирования в микросхемах НИИЭТ. Семинар состоится 17 апреля с 14:00 до 15:50 в конференц-зале №2 выставки. В программе семинара: Создание ЭКБ с целью поддержания уровня обеспеченности рынка радиоэлектронной аппаратуры; Мощные радиочастотные транзисторы и усилительные модули на их основе; Преимущества использования технологии периферийного сканирования в изделиях разработанных с использованием микроконтроллера 1887ВЕ7Т; Защищенная ОС реального времени — надежная платформа для встраиваемых систем ответственного назначения; Применение изделий АО «НИИЭТ» в разработках Центра инженерной физики МГУ. Зарегистрироваться на семинар можно здесь.

JTAG Visualizer с возможностью анализа тестопригодности

 Поддержка широкого набора САПР

Программа JTAG Visualizer традиционно использовалась российскими пользователями систем периферийного сканирования JTAG ProVision и более ранних версий для позиционирования дефектов монтажа на схеме и рисунке печатной платы. Также программа позволяет отобразить в графическом виде рассчитанное в JTAG ProVision тестовое покрытие. При этом поддерживаются все популярные САПР, такие как Altium, Cadence, Mentor и т.д.

JTAG Maps

В новой версии Visualizer добавлена функция Maps. Она позволяет провести упрощенную проверку доступа периферийного сканирования к цепям платы даже без наличия тестового проекта. Приблизительный расчет может быть усовершенствован добавлением базовой информации о компонентах. Разный уровень тестового доступа может быть обозначен с помощью своей цветовой кодировки. C помощью базовой проверки тестового доступа в Visualizer Maps разработчик может убедиться в тестопригодности изделия и отработать окончательную версию схемы. Далее можно приступить к разработке проекта тестирования платы в JTAG ProVision.

Другие возможности новой версии

Visualize on (Test) Fail  —  Данная опция позволяет всегда автоматически отображать дефектные цепи и пины во время запуска тестовой последовательности или отладке теста в JTAG ProVision на схеме или рисунке печатной платы.

Locate Next  – Функция позволяет отслеживать дефектную цепь в разных слоях по очереди либо в разных листах схемы.

Multiple Color Themes – можно создавать различные цветовые схемы для уровней тестового покрытия или типов дефектов и сохранять их.

View through layers  — подсвеченная цепь (например, та, где найден дефект при тестировании) теперь может быть показана во всех слоях платы, при этом плата становится «полупрозрачной».

Add notes – A note can be added anywhere at a fixed position on the schematic or layout. Ideal for conveying additional information about test processes or passing design details back and forth between users. В любом месте схемы или топологии платы могут добавляться комментарии, так что остальные участники процесса разработки изделия и его тестирования могут обмениваться важной информацией.

Отображение тестоаого покрытия:

Процессор «Спутник» поддерживает периферийное сканирование

Процессор «Спутник» поддерживает периферийное сканирование

Радиационно-стойкий отказоустойчивый 32-разрядный процессор «Спутник» предназначен для построения аппаратуры, в том числе командно-измерительных и телеметрических систем космических аппаратов, совместимых с международными стандартами CCSDS. Процессор «Спутник» поддерживает интерфейсы: CCSDS (ГОСТ Р 56096-2014), JTAG (IEEE 1149.1), SpaceWire, ГОСТ P 52070 (MIL-STD-1553), UART, CAN, SPI, I²C. Процессор может применяться в системах управления, для преобразования интерфейсов, обработки информации с датчиков измерительных систем, для управления источниками питания и др.

Работа по верификации проводилась на демонстрационной плате процессора с использованием программного пакета JTAG ProVision и контроллера JT3705/USB. Компанией «Цифровые решения» предоставлен полностью корректный BSDL-файл и исходные данные платы, что позволило разработать все проведенные тесты автоматически. В процессе работы удалось также успешно запустить тесты внешних межсоеднинений процессора, его JTAG-инфраструктуры, двух периферийных микросхем SRAM, двух устройств MRAM, флэш-ПЗУ. На демонстрационной плате была проведена имитация дефектов, которые были найдены и успешно локализованы.

Теперь разработчики и производители аппаратуры для КА могут быть уверены, что при выборе отечественного процессора «Спутник», разработанного научно-производственным предприятием «Цифровые решения», их изделия будут тестопригодными. Использование данного процессора позволит создавать на его основе современную и надежную аппаратуру космических аппаратов.

Опубликовано видео работы с микроконтроллером 1887ВЕ7Т от воронежского НИИЭТ.

Мы провели проверку работы средств периферийного сканирования (JTAG Live Studio) с российским микроконтроллером 1887ВЕ7Т и засняли данную работу на видео.

Тесты, успешно выполненные для микроконтроллера 1887ВЕ7Т, говорят о том, что внедренная поддержка стандарта IEEE 1149.1, позволят тестировать и диагностировать дефекты сборки на

устройствах, разработанных с его использованием. При этом можно использовать как полуавтоматический инструментарий JTAG Live Studio, так и полностью автоматизированную среду JTAG ProVision.