5 февраля 2018
Поддержка широкого набора САПР
Программа JTAGVisualizer традиционно использовалась российскими пользователями систем периферийного сканирования JTAGProVision и более ранних версий для позиционирования дефектов монтажа на схеме и рисунке печатной платы. Также программа позволяет отобразить в графическом виде рассчитанное в JTAGProVision тестовое покрытие. При этом поддерживаются все популярные САПР, такие как Altium, Cadence, Mentor и т.д.
JTAG Maps
В новой версии Visualizer добавлена функция Maps. Она позволяет провести упрощенную проверку доступа периферийного сканирования к цепям платы даже без наличия тестового проекта. Приблизительный расчет может быть усовершенствован добавлением базовой информации о компонентах. Разный уровень тестового доступа может быть обозначен с помощью своей цветовой кодировки. C помощью базовой проверки тестового доступа в VisualizerMaps разработчик может убедиться в тестопригодности изделия и отработать окончательную версию схемы. Далее можно приступить к разработке проекта тестирования платы в JTAGProVision.
Другие возможности новой версии
Visualizeon (Test) Fail — Данная опция позволяет всегда автоматически отображать дефектные цепи и пины во время запуска тестовой последовательности или отладке теста в JTAGProVision на схеме или рисунке печатной платы.
LocateNext – Функция позволяет отслеживать дефектную цепь в разных слоях по очереди либо в разных листах схемы.
MultipleColorThemes – можно создавать различные цветовые схемы для уровней тестового покрытия или типов дефектов и сохранять их.
Viewthroughlayers — подсвеченная цепь (например, та, где найден дефект при тестировании) теперь может быть показана во всех слоях платы, при этом плата становится «полупрозрачной».
Add notes – A note can be added anywhere at a fixed position on the schematic or layout. Ideal for conveying additional information about test processes or passing design details back and forth between users. В любом месте схемы или топологии платы могут добавляться комментарии, так что остальные участники процесса разработки изделия и его тестирования могут обмениваться важной информацией.