ПЛИС автомобильного класса Gowin прошли испытания SAIC на термостойкость длительностью 2500 ч
ПЛИС автомобильного класса Gowin прошли испытания SAIC на термостойкость длительностью 2500 ч Компании GOWIN Semiconductor и Shanghai Automobile Transmission (SAGW) сообщили о том, что ПЛИС автомобильного класса GOWIN Semiconductor прошли испытания SAIC на термостойкость длительностью 2500 ч, на устойчивость к циклическому нагреву и охлаждению с нагрузкой, испытания на тепловое воздействие, на вибрацию и на пробег…