Вебинар: «Применение периферийного сканирования на серийном производстве»

26 ноября в 15:00 по московскому времени компания JTAG Technologies приглашает вас на бесплатный вебинар «Применение периферийного сканирования в условиях серийного производства». После серии летних вебинаров, на которых было рассказано, в частности, о том как разрабатываются JTAG-приложения, позволяющие диагностировать дефекты с точностью до вывода даже там, где все микросхемы имеют корпуса BGA, настало время следующей…