Конференция пользователей систем периферийного сканирования и внутрисхемного теста: новый уровень.

Конференция пользователей систем периферийного сканирования и внутрисхемного теста: новый уровень. Компания Остек-Электро совместно с российским представительством JTAG Technologies провели объединенную всероссийскую конференцию пользователей систем периферийного сканирования JTAG Technologies и систем внутрисхемного тестирования SPEA. Событие состоялось 20 и 21 сентября 2021 года в пригороде Санкт-Петербурга Петергофе. Это продолжение уже ставшей традиционной пользовательской конференции JTAG Technologies, в…