Конференция пользователей систем периферийного сканирования и внутрисхемного теста: новый уровень.

События, тестирование, Российский рынок электроникиОставить комментарий

Конференция пользователей систем периферийного сканирования и внутрисхемного теста: новый уровень. Компания Остек-Электро совместно с российским представительством JTAG Technologies провели объединенную всероссийскую конференцию пользователей систем периферийного сканирования JTAG Technologies и систем внутрисхемного тестирования SPEA. Событие состоялось 20 и 21 сентября 2021 года в пригороде Санкт-Петербурга Петергофе. Это продолжение уже ставшей традиционной пользовательской конференции JTAG Technologies, в…

Вебинар: «Применение периферийного сканирования на серийном производстве»

События, Российский рынок электроникиОставить комментарий

26 ноября в 15:00 по московскому времени компания JTAG Technologies приглашает вас на бесплатный вебинар «Применение периферийного сканирования в условиях серийного производства». После серии летних вебинаров, на которых было рассказано, в частности, о том как разрабатываются JTAG-приложения, позволяющие диагностировать дефекты с точностью до вывода даже там, где все микросхемы имеют корпуса BGA, настало время следующей…