Конференция пользователей систем периферийного сканирования и внутрисхемного теста: новый уровень.
Компания Остек-Электро совместно с российским представительством JTAG Technologies провели объединенную всероссийскую конференцию пользователей систем периферийного сканирования JTAG Technologies и систем внутрисхемного тестирования SPEA. Событие состоялось 20 и 21 сентября 2021 года в пригороде Санкт-Петербурга Петергофе. Это продолжение уже ставшей традиционной пользовательской конференции JTAG Technologies, в этот раз было принято решение о объединении двух методологий электроконтроля, которые по сути дополняют друг друга. Такой формат действительно оказался очень продуктивным, ведь периферийное сканирование и внутрисхемный тест составляют основы структурного производственного тестирования и в комбинации почти всегда позволяют получить максимальное тестовое покрытие.
Конференция собрала порядка 70 участников из разных городов: от Минска до Томска. Буквально каждый доклад вызывал интерес и оживленные дискуссии. Следует отметить, что большую часть докладов составляли презентации инженеров предприятий, которых было 14: это реальные случаи из практики тестирования электроники. Ещё 6 докладов провели представители JTAG Technologies и Остек-Электро.
На конференции поднимались вопросы стратегии тестопригодного проектирования на предприятиях, интеграции различных тестовых методик в единых стендах, поддержки стандартов IEEE 1149.1 и IEEE 1149.6 импортной и отечественной компонентной базой, рассказывалось о опыте входного контроля сложных ПЛИС с использованием станций периферийного сканирования. Отдельно следует упомянуть про возможности интегрированного комплекса Эльбрус-Тест, который предназначен для тестирования плат на базе процессоров Эльбрус, и про опыт интеграции периферийного сканирования в программное обеспечение Robster от компании Третий Пин.
С более подробным списком тем докладов и запросить презентации можно в телеграм-канале JTAG Technologies: https://t.me/jtagtechRU