26 ноября в 15:00 по московскому времени компания JTAG Technologies приглашает вас на бесплатный вебинар «Применение периферийного сканирования в условиях серийного производства». После серии летних вебинаров, на которых было рассказано, в частности, о том как разрабатываются JTAG-приложения, позволяющие диагностировать дефекты с точностью до вывода даже там, где все микросхемы имеют корпуса BGA, настало время следующей стадии. Когда JTAG-тестирование выходит на «цеховую» стадию, важно решить следующие вопросы:
- Как, в какой последовательности и с какими опциями запускать все ранее сгенерированные тесты на платформе JTAG ProVision, какие есть нюансы.
- Как оформить аппаратную интеграцию в тестеры ICT или Flying Probe. Какие есть подводные камни? Почему это иногда необходимо, а когда – не нужно?
- Отдельно расскажем про программную интеграцию тестов в LabVIEW, TestStand, C++, и так далее. Что, если не хочется расставаться любыми средами для тестирования?
- Как быстро программировать флэшки на станциях периферийного сканирования? Что вообще можно программировать?
Все эти и другие вопросы мы обсудим на вебинаре и дадим вам ключ к построению правильной тестовой стратегии. Темы, которые будут затронуты, будут интересны как тем, кто уже использует периферийное сканирование, так и тем, кто только собирается строить такую тестовую стратегию.
Ссылка для регистрации: https://attendee.gotowebinar.com/register/6258066553350664459
Для тех, кто желает быть в курсе всех мероприятий, связанных с JTAG-тестированием, а также всех новинок данного направления, мы предлагаем подписаться на телеграм-канал JTAG Technologies: JtagtechRU.
