ПЛИС автомобильного класса Gowin прошли испытания SAIC на термостойкость длительностью 2500 ч
Компании GOWIN Semiconductor и Shanghai Automobile Transmission (SAGW) сообщили о том, что ПЛИС автомобильного
класса GOWIN Semiconductor прошли испытания SAIC на термостойкость длительностью 2500 ч, на устойчивость к циклическому нагреву и охлаждению с нагрузкой, испытания на тепловое воздействие, на вибрацию и на пробег 30 тыс. км.
ПЛИС становятся неотъемлемым компонентом при разработке усовершенствованных систем помощи водителю, автономного вождения, лидаров, информационно-развлекательных систем автомобиля и ПО информирования водителя. Производители автомобилей, применяющие ПЛИС в своих разработках, провели независимые сертификационные испытания устройств Gowin AEC‑100Q.
SAGW является одним из крупнейших китайских предприятий по производству легковых автомобилей с долей внутреннего рынка около 15%.
Полный блок новостей Гаммы из журнала «Электронные Компоненты» 2
Дополнительную информацию и опытные образцы можно получить в ООО «Гамма Плюс»
Выборг: +7 (81378) 546-53;
Москва: +7 (495) 788-1292;
Санкт-Петербург: +7 (812) 321-6160;
Екатеринбург: +7 (343) 286-7512;
Ульяновск: +7 (8422) 256-939;
info@icgamma.ru, www.icgamma.ru
