II-я Всероссийская конференция «Тестирование и испытание изделий электронной техники»
Конференция, организованная нашей медиагруппой «Электроника», прошла в 5 июня Москве. Как и первая конференция, состоявшаяся год назад, нынешняя вызвала живой интерес. В прошлом году в программе преобладали доклады, посвященные граничному сканированию, многие доклады касались технологий JTAG. На этот раз акцент был сделан на входной контроль. Учли мы и специфику отечественного рынка электроники – в программе…