Конференция пользователей систем периферийного сканирования и внутрисхемного теста: новый уровень.

Конференция пользователей систем периферийного сканирования и внутрисхемного теста: новый уровень. Компания Остек-Электро совместно с российским представительством JTAG Technologies провели объединенную всероссийскую конференцию пользователей систем периферийного сканирования JTAG Technologies и систем внутрисхемного тестирования SPEA. Событие состоялось 20 и 21 сентября 2021 года в пригороде Санкт-Петербурга Петергофе. Это продолжение уже ставшей традиционной пользовательской конференции JTAG Technologies, в…

Интерпретация и подтверждение динамических характеристик для технических описаний силовых WBG-устройств

Интерпретация и подтверждение динамических характеристик для технических описаний силовых WBG-устройств   Рё Такеда (Ryo Takeda), разработчик архитектуры решений, Keysight Бернард Хольцингер (Bernhard Holzinger), технический архитектор систем, Keysight Михаэль Циммерман (Michael Zimmerman), разработчик, Keysight Майк Хос (Mike Hawes), консультант по силовому оборудованию, Keysight   С появлением приборов с широкой запрещенной зоной (WBG) прежние методы и стандарты…