Вебинар: «Применение периферийного сканирования на серийном производстве»

26 ноября в 15:00 по московскому времени компания JTAG Technologies приглашает вас на бесплатный вебинар «Применение периферийного сканирования в условиях серийного производства». После серии летних вебинаров, на которых было рассказано, в частности, о том как разрабатываются JTAG-приложения, позволяющие диагностировать дефекты с точностью до вывода даже там, где все микросхемы имеют корпуса BGA, настало время следующей…

Итоги VI Международного Форума «Микроэлектроника 2020»

С 28 сентября по 3 октября в отеле Ялта-Интурист прошел VI Международный Форум «Микроэлектроника 2020» , который собрал в Крыму ключевых ученых, инженеров и разработчиков электронной отрасли. Организаторами мероприятия выступили Минпромторг РФ, НИИ Микроэлектронной аппаратуры Прогресс, НИИ молекулярной электроники, ЦНИИ «Электроника». Основной целью данной Конференции стало обсуждение актуальных вопросов разработки, производства и применения отечественной электронной…