24 Мая 2017 года в г. Томске состоится семинар, посвященный JTAG-технологиям тестирования цифровых плат: «День периферийного сканирования»

17 мая 2017 JTAG-технологии тестирования все более замещают все остальные альтернативы. За JTAG-технологиями – будущее тестирования. . Сегодня активно используются стандарты IEEE 1149.1 и IEEE 1149.6, на подходе – стандарт нового поколения: IEEE 1687. Знать, как применять данную технологию, необходимо всем разработчикам и производственникам: рано или поздно с ней столкнутся все. Мы уделим особое внимание…